联合测试行为组织简介
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发布时间：2024-10-24 07:48
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时间：2024-11-07 08:37
IEEE标准1149.1a-1993和IEEE1149.1b-1994是关于边界扫描的专门规定，它们在1990年被初次批准后，经过1993年和1995年的两次补充完善。这些标准着重于硬件和软件的要求，对于电路边界扫描测试和可编程芯片的在系统编程具有重要意义。
JTAG（边界扫描测试接口）技术在电子工程领域扮演了核心角色，它的主要应用集中在两个关键领域。首先，它作为一种测试工具，被广泛用于检测和诊断电路板中各组件的连接性和功能，确保它们在系统中的正常工作。其次，对于可编程芯片，JTAG提供了在芯片实际运行过程中进行编程和配置的能力，这大大提高了生产效率和灵活性。
扩展资料
联合测试行为组织英文为Joint Test Action Group该组织成立于1985 年，是由几家主要的电子制造商发起制订的PCB 和IC 测试标准。JTAG 建议于1990 年被IEEE 批准为IEEE1149.1-1990 测试访问端口和边界扫描结构标准。
